Сканирующий гелиевый ионный микроскоп (СГИМ, гелий-ионный микроскоп, ионный гелиевый микроскоп, гелиевый микроскоп, HeIM) — сканирующий (растровый) микроскоп...
66 KB (4,545 words) - 12:36, 12 November 2023
Микроскопия медленных электронов Сканирующий гелиевый ионный микроскоп Отражательная микроскопия «Электронный микроскоп» — статья в Малой советской энциклопедии;...
27 KB (1,529 words) - 10:51, 17 February 2024
Преобразование Фурье Электронная томография EFTEM EELS Сканирующий гелиевый ионный микроскоп The Vacuum System Of a TEM (неопр.). Дата обращения: 24...
28 KB (1,550 words) - 18:11, 4 August 2023
электронный микроскоп Сфокусированный ионный пучок Электронный микроскоп Рентгеноспектральный анализ Сканирующий гелиевый ионный микроскоп H. Busch. Berechnung...
47 KB (2,861 words) - 18:02, 4 August 2023
масштаба. Ионный источник Дифракция отраженных электронов (EBSD) Растровый электронный микроскоп Сканирующий гелиевый ионный микроскоп Ионно-лучевой анализ...
15 KB (935 words) - 06:08, 9 December 2023
является основой для полевого ионного микроскопа (например, используется как ионный источник в сканирующем гелиевом ионном микроскопе), позволяющего получать...
5 KB (364 words) - 19:49, 6 July 2020
Поул Алкемейд. Делфтский технический университет. . Сфокусированный гелиевый ионный пучок для обработки материалов в нанометровом масштабе. Свен Бауэрдик...
44 KB (2,432 words) - 22:13, 29 October 2023
за разработку принципов построения автоматизированных сканирующих систем оптической микроскопии, создание и внедрение на их основе комплекса приборов...
216 KB (12,840 words) - 18:47, 8 April 2024