Röntgendiffraktometer – Wikipedia

Ein Röntgendiffraktometer (auch abgekürzt als XRD für x-ray diffractionmeter; von Diffraktion, lat. für Beugung) ist ein Gerät zur Untersuchung der Struktur von kristallinen Phasen in Werkstoffen.^[1] In der Probe tritt Röntgenbeugung auf, die Beugungswinkel und -Intensitäten werden vermessen.

Je nach dem zu untersuchenden Material werden folgende Methoden unterschieden:

• Einkristalldiffraktometer zur Bestimmung der Kristallstruktur
  • Röntgengoniometer vermessen die Textur eines Kristalls in drei Dimensionen.^[2]
• Pulverdiffraktometer zur Identifizierung kristalliner Substanzen und zur Quantifizierung von Gemischen
• Kleinwinkeldiffraktometer (SAXS, englisch small angle x-ray scattering) zur Untersuchung von langreichweitiger Ordnung in Materialien, z. B., Mikrophasen, smektischen Strukturen in Flüssigkristallen, gefüllten Systemen
• Röntgendiffraktometrie unter streifendem Einfall zur Strukturuntersuchung dünner Schichten.

Einzelnachweise[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]

1. ↑ Günter Gottstein: Materialwissenschaft und Werkstofftechnik Physikalische Grundlagen. 4., neu bearb. Auflage. Berlin/Heidelberg 2014, ISBN 978-3-642-36603-1, S. 54. 
2. ↑ K. Weissenberg: Ein neues Röntgengoniometer. In: Zeitschrift für Physik. Band 23, Nr. 1, Dezember 1924, ISSN 1434-6001, S. 229–238, doi:10.1007/BF01327586.